Электронный архив
Донецкого национального технического университета (г.Донецк)
Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)
 

eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий >
Кафедра компьютерной инженерии >
Научные публикации кафедры компьютерной инженерии >

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.org/handle/123456789/33465

Title: Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов
Authors: Дяченко, Валерий Олегович
Дяченко, Олег Николаевич
Keywords: минимальные полиномы
генератор тестовых последовательностей
анализатор тестовых реакций
порождающий полином
Issue Date: 2018
Publisher: Донецкий национальный технический университет
Citation: Дяченко В.О., Дяченко О.Н. Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов // Информатика и кибернетика. Донецк: ДонНТУ, 2018. № 1(11). – С. 36–41
Series/Report no.: Информатика и кибернетика;1(11)
Abstract: Дяченко В.О., Дяченко О.Н. Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов. Выполнен анализ эффективности компактного тестирования цифровых схем при предположении, что генератор тестовых последовательностей и анализаторы тестовых реакций - РСЛОС с минимальными порождающими полиномами. На основе такого анализа предложена комплексная оценка для различных вариантов сочетания минимальных порождающих полиномов для исчерпывающего тестирования комбинационных схем
URI: http://ea.donntu.org/handle/123456789/33465
Appears in Collections:Научные публикации кафедры компьютерной инженерии

Files in This Item:

File Description SizeFormat
2018-Dyachenko-INF-CYB-11.pdf257.78 kBAdobe PDFView/Open

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.