Электронный архив
Донецкого национального технического университета (г.Донецк)
Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)
 

eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий >
Кафедра компьютерной инженерии >
Научные публикации кафедры компьютерной инженерии >

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.org/handle/123456789/33472

Title: Компактное тестирование на основе минимальных полиномов в цифровых схемах с самотестированием
Authors: Дяченко, Валерий Олегович
Дяченко, Олег Николаевич
Keywords: минимальные полиномы
генератор тестовых последовательностей
анализатор тестовых реакций
порождающий полином
Issue Date: 20-Nov-2017
Publisher: Донецкий национальный технический университет
Citation: Дяченко В.О., Дяченко О.Н. Компактное тестирование на основе минимальных полиномов в цифровых схемах с самотестированием // Материалы V Международной научно-технической конференции «Современные информационные технологии в образовании и научных исследованиях» (СИТОНИ-2017). – Донецк: ДонНТУ, 2018. – С. 367-371
Series/Report no.: Современные информационные технологии в образовании и научных исследованиях;
Abstract: Дяченко В.О., Дяченко О.Н. Компактное тестирование на основе минимальных полиномов в цифровых схемах с самотестированием. Выполнен анализ эффективности компактного тестирования комбинационных схем, учитывающего характер распределения ошибок в тестовой реакции и структуру генератора тестовых последовательностей и анализаторов тестовых реакций, построенных на основе минимальных полиномов. Предложены рекомендации по выбору порождающих полиномов регистров сдвига с линейными обратными связями для различных вариантов компактного тестирования
URI: http://ea.donntu.org/handle/123456789/33472
Appears in Collections:Научные публикации кафедры компьютерной инженерии

Files in This Item:

File Description SizeFormat
2018-Dyachenko-SITONI.pdf1.22 MBAdobe PDFView/Open

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.