Электронный архив
Донецкого национального технического университета (г.Донецк)
Electronic archive of Donetsk national technical university (Donetsk)
 

eaDonNTU, Donetsk >
Факультет компьютерных наук и технологий >
Кафедра автоматизированных систем управления >
Научные монографии >

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.org/handle/123456789/8577

Title: Evolutionary test generation methods for digital devices
Authors: Skobtsov, Yuriy
Skobtsov, Vadim
Keywords: digital devices
genetic algorithm
test generation
ATPG
цифровые устройства
генетический алгоритм
генерация тестов
Issue Date: 2011
Publisher: Springer Verlag
Citation: In: Design of digital systems and devices (eds. M.Adamski et al.). – Berlin Heidelberg: Springer Verlag. - Lecture notes in electrical engineering, 2011, vol. 79, - p.331-361
Series/Report no.: Lecture notes in electrical engineering;vol. 79
Abstract: In this chapter, we will discuss how evolutionary methods can be used for test generation of digital circuits.There is presented test generation genetic algorithms for combinational circuits.The evolutionary methods of test generation for sequential circuits are described.Distributed test generation methods are presented.Hierarchical genetic algorithm of test generation for highly sequential circuitsis proposed. Genetic programming in test generation of microprocessor systems is used.
Description: В этой главе мы обсудим, как эволюционные методы могут быть использованы для генерации тестов цифровых схем. Представлены генетические алгоритмы генерации тестов для комбинационных схем. Генетическое программирование в генерации тестов микропроцессорных систем используется.
URI: http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/8577
Appears in Collections:Научные монографии

Files in This Item:

File Description SizeFormat
Skobtsov chapter 13 Springer.pdf443.1 kBAdobe PDFView/Open

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.